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Fehleranalyse für integrierter Schaltkreise (IC)

FA-Techniken (Fehleranalyse) werden verwendet, um die Ursache eines Fehlers in integrierten Schaltkreisen zu lokalisieren und zu identifizieren. 水仙直播 Instruments liefert Instrumente für Ihre integrierten Schaltkreisanalyse.

Frontseitige Verz?gerung: Der frontseitige Verz?gerungsprozess ist eine Art IC-Fehleranalyseanwendung, bei der die Dicke des nach der dielektrischen Verdünnung verbleibenden Dielektrikums bekannt sein muss. Filmetrics^? Das mikroskopbasierte Schichtdickenmessger?t F40 ist ideal für diese IC-Fehleranalyseanwendung.

ITO-Filmdicke

Messen Sie die Filmdicke von Indiumzinnoxid (ITO) und anderen transparenten leitf?higen Oxiden (TCOs) mithilfe genauer Messungen des Brechungsindexes. Filmetrie-Tools k?nnen Flüssigkristallschichten messen, darunter Polyimid-, Hartlack-, Flüssigkristall- und OLED-Schichten, einschlie?lich der Emissions-, Injektions-, Puffer- und Verkapselungsschichten. Erfahren Sie mehr über die Herausforderungen beim Messen einer ITO-Schicht in unserer Anwendungshinweise.

Dickenmessung von biomedizinischen Beschichtungen

Messen Sie die Dicke von Beschichtungen für biomedizinische Anwendungen – wie Katheter- und Angioplastieballone, Stents, Führungsdr?hte, Nadeln und andere Implantate – mit einem Klick mithilfe unserer Filmetrics-Tools. Biomedizinische Ger?te verfügen über spezielle Beschichtungen, die das Ger?t vor Korrosion schützen, w?hrend andere vor Komplikationen wie Gewebetrauma, Infektion oder sogar Absto?ung schützen. Die Messung der Schichtdicke von Arzneimittelverabreichungsger?ten ist ebenfalls eine g?ngige Anwendung. Unsere Filmetrics-Werkzeuge erm?glichen schnelle und zuverl?ssige Dickenmessungen, die zerst?rungsfrei sind und keine Probenvorbereitung erfordern.

Anzeige: OLED Metrology

Organische Leuchtdioden (OLEDs) werden in vielen Anzeigeger?ten verwendet, darunter Mobiltelefone und Fernsehger?te. Die Dicke der vielen dünnen Filme, aus denen OLED-Displays bestehen, ist von entscheidender Bedeutung und erfordert ein berührungsloses Messsystem, um die OLED-Dicke effektiv zu messen. Unser F40-UV-Filmdickenmessger?t bietet kostengünstige, robuste und nichtinvasive Messverfahren für einfache Prototypger?te und vollst?ndig gepixelte Displays. Da unsere OLED-Messger?te spektroskopisch sind, k?nnen auch chemische Ver?nderungen erkannt werden, die in diesen atmosph?risch empfindlichen Materialien auftreten k?nnen. Wir bieten au?erdem kostenlose Testmessungen der Schichtdicke von OLED-Filmproben an.

Schichtdickenmessung für por?ses Silizium

Por?ses Silizium wird in vielen verschiedenen Anwendungen eingesetzt, darunter optische Ger?te, Gassensoren und biomedizinische Ger?te.

Zu den für die Industrie interessanten Messungen por?ser Dünnschichten z?hlen Schichtdicke und Porosit?t. Im Allgemeinen werden zerst?rungsfreie Methoden wie gravimetrische Messungen verwendet, um die Porosit?t zu messen, aber die Genauigkeit dieser Methode ist sehr gering. Filmetrics^? F40 bietet einen kostenlosen, einzigartigen Analysealgorithmus, der Schichtdicke, den Index und die Porosit?t von por?sem Silizium mit einem einzigen Mausklick ermittelt.

Messung von Halbleiterprozessfilme

Die Filmetrics^?-Produktlinie bietet eine umfassende Palette von Ger?ten und Systemen zur Messung der Dicke und des Indexes von nichtmetallischen Halbleiterprozessfilme.

Das mikroskopbasierte Schitdickenmessger?t Filmetrics F40 eignet sich für Messungen mit kleinem Messfleck (bis zu 1 Mikrometer oder weniger) und wird an Ihrem Mikroskop angeschlossen.

Unsere patentierte Dickenbildtechnologie erm?glicht eine einfachere Einrichtung, weniger Rezepte, eine robustere Mustererkennung und wesentlich geringere Kosten als herk?mmliche Schichtdicken-Messtechnikger?te. Sowohl eigenst?ndige als auch integrierte Versionen sind erh?ltlich.