Produktbeschreibung
Die Wei?lichtinterferometer Filmetrics Profilm3D und Filmetrics Profilm3D-200 erzeugen hochaufl?sende Messungen der Oberfl?chentopografie mit einer Aufl?sung auf Sub-Nanometerebene. Die Werkzeuge unterstützen sowohl vertikal scannende als auch phasenverschiebende Interferometrie. Phase-Shift Imaging (PSI) kann auch mit WLI kombiniert werden, um PSI-Empfindlichkeit über gr??ere Z-Variationen der Oberfl?che zu erm?glichen. Dank der TotalFocus?-Technologie liefert Profilm3D atemberaubende 3D-Bilder in natürlicher Farbe, bei denen jedes Pixel im Fokus steht. Die neueste Generation des Wei?lichtinterferometers Profilm3D bietet verbesserte Rauheitsbildgebung zur Messung rauerer Oberfl?chen, h?herer Neigungen und Oberfl?chen mit geringerer Reflexion.
Bei der Profilm3D-Messmethode ist die vertikale Aufl?sung der Messung unabh?ngig von der numerischen Apertur des Objektivs, was hochaufl?sende Messungen mit einem gro?en Sichtfeld erm?glicht. Der gemessene Bereich kann weiter erh?ht werden, indem mehrere Aufnahmen zu einer einzigen Messung zusammengefügt werden. Das Profilm3D-Optikprofilometer verfügt au?erdem über eine einfache, innovative Benutzeroberfl?che und automatisierte Funktionen, um eine breite Palette von Arbeitsumgebungen zu unterstützen, von Forschung und Entwicklung bis hin zur Produktion.
Merkmale
- Vertikales Scannen und phasenverschiebende Interferometrie zur Messung von Oberfl?chenmerkmalen von Nanometern bis Millimetern.
- TotalFocus 3D-Bildgebung mit optimiertem Fokus für jedes Pixel über den gesamten Messbereich.
- True-Color-Imaging erzeugt die tats?chlichen Probenfarben für eine verbesserte Visualisierung, insbesondere für feine oder verborgene Merkmale.
- Enhanced Roughness Mode (ERM) erh?ht den Randkontrast für bessere Bildtreue auf geneigten Oberfl?chen wie Objektiven und erm?glicht eine Signalverbesserung für raue Oberfl?chen.
- Automatisierter Fokus mit branchenführender langer Piezo-Reichweite für das Scannen mehrerer Oberfl?chen, die durch gro?e H?henabst?nde getrennt sind.
- Automatisierter X-Y-Tisch mit langer Reichweite, ideal für Kartierungen und Stitching-Scans
Anwendungen
- Stufenh?he: 3D-Stufenh?he von Nanometern bis Millimetern
- Textur und Form: 3D-Rauheit, Welligkeit, Verw?lbung und Form
- Texturcharakterisierung
- Kanten-Roll-Off: 3D-Kantenprofilmessungen
- Fehlerprüfung: 3D-Topografie von Fehleroberfl?chen, Fehlercharakterisierung
- Hochaufl?sende Scans über gro?e, transparente Filmoberfl?chen
- Hohe Rauheit, geringe Reflexionsf?higkeit, Kratzercharakterisierung
Branchen
- Universit?ten, Forschungslabore und Institute
- Silizium und Verbundhalbleiter
- Pr?zisionsoptik und -mechanik
- Medizinische Ger?te
- LED: Leuchtdioden
- Stromversorgungsger?te
- MEMS: Mikroelektromechanische Systeme
- Datenspeicherung
- Automobilindustrie
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