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4探针プローブ

4探针プローブ

半導体の世界では、薄膜やバルク材料のシート抵抗と抵抗率を測定?モニターするために電気的な測定システムが不可欠です。 シート抵抗マッピングシステム用に、さまざまな半径とピン間隔を備えた4探针プローブを提供しています。これらは、金属の測定、インプラント測定、高インピーダンス表面測定など多様なアプリケーションに使用されます。当社の4探针プローブは、薄膜や半導体のシート抵抗の測定において、信頼性の高い正確な測定方法を提供します。 条件決めのための基板や、予備の4探针プローブを含む交換部品の注文については、弊社までお问い合わせください。これらの交換用アクセサリーは、R50およびR54の4探针プローブの両システムで使用可能です。Filmetrics? の4探针プローブを使用することで、正確かつ精密な測定が保証されます。